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精密定位系統(tǒng)/平移臺(tái)

激光測(cè)量設(shè)備

光譜儀

專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備

激光器/光源

光學(xué)部件

晶體

精密定位系統(tǒng)/平移臺(tái)/掃描

光學(xué)/激光加工系統(tǒng)

實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品

相機(jī)

空間光調(diào)制產(chǎn)品

2023
5.29

鎖模激光器的原理

在一個(gè)簡(jiǎn)單的激光器中，每一個(gè)模式都獨(dú)立地振蕩，彼此之間沒(méi)有固定的關(guān)系，本質(zhì)上就像一組獨(dú)立的激光器，它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個(gè)相位都不是固定的，可能會(huì)因激光器材料的熱變化等因素而隨機(jī)變化。在只有少數(shù)振蕩模式的激光器中，模式之間的干擾會(huì)導(dǎo)致激光輸出中的拍頻效應(yīng)，導(dǎo)致強(qiáng)度波動(dòng)；在具有數(shù)千個(gè)模式的激光器中，這些干擾效應(yīng)趨于平均到接近恒定的輸出強(qiáng)度。如果不是獨(dú)立振蕩，而是每個(gè)模式運(yùn)行時(shí)與其他模式之間保持固定的相位差，則激光輸出的行為會(huì)截然不同。激光模式將周期性地相...
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2023
5.22

點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗(yàn)方法

點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗(yàn)方法點(diǎn)衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點(diǎn)光源對(duì)物體表面進(jìn)行測(cè)量，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測(cè)量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標(biāo)準(zhǔn)參考件，可以用于超高精度面型的檢測(cè)，是一種非常重要的高精度測(cè)量?jī)x器。1.1測(cè)試光路測(cè)試系統(tǒng)主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī)，準(zhǔn)直器，5mm口徑鋁鏡，光學(xué)平臺(tái)等構(gòu)成。1.2測(cè)試環(huán)境溫度：21℃&plus...
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2023
5.22

非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x的原理及應(yīng)用

非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x是一種常見(jiàn)的表面分析儀器，其原理基于光學(xué)干涉或者電磁感應(yīng)等技術(shù)。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學(xué)分析法，非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x具有高精度、快速和不破壞測(cè)試樣品等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、光學(xué)制造等領(lǐng)域。原理是利用光學(xué)干涉原理或電磁感應(yīng)原理來(lái)測(cè)定薄膜的厚度。其中，光學(xué)干涉法是通過(guò)反射光線之間的干涉來(lái)測(cè)量薄膜的厚度，而電磁感應(yīng)法則是依靠磁場(chǎng)的變化來(lái)檢測(cè)薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測(cè)量薄膜對(duì)光線或磁場(chǎng)的影響上，通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)信號(hào)變化來(lái)計(jì)算出薄膜的厚度。...
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2023
4.27

Up to 98%光利用率—鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!

Upto98%光利用率——鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調(diào)制器（SLM）可以將數(shù)字化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為適合各種應(yīng)用的相干光學(xué)信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應(yīng)光學(xué)、湍流模擬、光計(jì)算、光遺傳學(xué)和散射介質(zhì)成像等應(yīng)用。這些應(yīng)用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調(diào)制器。通過(guò)將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數(shù)字電路相結(jié)合，MeadowlarkOptics現(xiàn)在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學(xué)xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
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2023
4.17

膜厚測(cè)量?jī)x的應(yīng)用場(chǎng)景

膜厚測(cè)量?jī)x主要采用了X射線熒光光譜技術(shù)（XRF技術(shù)），通過(guò)發(fā)射出的X射線來(lái)對(duì)材料內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過(guò)材料后，與材料中的元素反應(yīng)并產(chǎn)生熒光信號(hào)，該熒光信號(hào)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度反映了樣品中的元素種類和含量。通過(guò)這種方式來(lái)測(cè)量薄膜的厚度以及成分。應(yīng)用場(chǎng)景：1、半導(dǎo)體加工在半導(dǎo)體制造業(yè)中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。膜厚測(cè)量?jī)x能夠精確測(cè)量超薄膜，對(duì)后續(xù)工序制定提供參考。2、金屬材料檢測(cè)在金屬材料制造業(yè)中，需...
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2023
4.13

膜厚測(cè)量?jī)x在多個(gè)行業(yè)中都有著廣泛的應(yīng)用

膜厚測(cè)量?jī)x是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和工業(yè)生產(chǎn)中的精密測(cè)量設(shè)備。膜厚測(cè)量?jī)x的主要作用是通過(guò)利用特定實(shí)驗(yàn)方法和設(shè)備對(duì)薄膜進(jìn)行精確測(cè)量。膜厚測(cè)量?jī)x可以廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域，如電子、照明、建筑、半導(dǎo)體、光學(xué)、制藥、航空等。1.電子行業(yè)在電子行業(yè)中，膜厚測(cè)量?jī)x被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、面板顯示器、光學(xué)存儲(chǔ)器、光電元件等制造產(chǎn)業(yè)中。通過(guò)利用膜厚測(cè)量?jī)x可以幫助生產(chǎn)商更好地掌握產(chǎn)品的質(zhì)量和性能特征，提高產(chǎn)業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力。2.照明行業(yè)在照明行業(yè)中，膜厚測(cè)量?jī)x的主要應(yīng)用是幫助測(cè)量光伏電池的光電轉(zhuǎn)化率，以及測(cè)...
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2023
4.11

無(wú)人機(jī)載高光譜遙感使作物表型檢測(cè)更加高效

無(wú)人機(jī)載高光譜遙感使作物表型檢測(cè)更加高效糧食短缺、人口增長(zhǎng)和全球氣候變化推動(dòng)了提高作物產(chǎn)量的研究。田間作物表型能為作物生長(zhǎng)及其與環(huán)境的關(guān)系提供了重要信息。然而，傳統(tǒng)的車載平臺(tái)用于田間試驗(yàn)采樣和作物性狀參數(shù)的確定費(fèi)時(shí)費(fèi)力，且空間覆蓋范圍有限。這限制了作物科學(xué)研究的快速發(fā)展。以無(wú)人機(jī)(UAV)為代表的高通量近地遙感表型平臺(tái)靈活、成本低、空間覆蓋廣，已成為獲取田間表型信息的有效途徑。（利用光譜數(shù)據(jù)評(píng)估植物表型特征）將specimAFX10高光譜成像相機(jī)集成到無(wú)人機(jī)上，用于評(píng)估中國(guó)北...
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2023
4.11

光放大器在光纖領(lǐng)域的應(yīng)用

光放大技術(shù)是指不需要進(jìn)行光—電—光的轉(zhuǎn)換，直接對(duì)光信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)、在線、透明放大的技術(shù)。其核心器件為光放大器，它是一種全光放大器，主要由增益介質(zhì)、輸入輸出結(jié)構(gòu)等構(gòu)成，其作用是增強(qiáng)光信號(hào)的功率，放大輸入的弱光信號(hào)。在光纖通信技術(shù)中，由傳統(tǒng)的光電混合中繼放大器到純光放大器是一個(gè)重大的飛躍。這意味著光電中繼器中由于電子響應(yīng)速度和寬帶限制所帶來(lái)的“電子瓶頸”的影響將不復(fù)存在，利用原有的系統(tǒng)進(jìn)行高速率信號(hào)傳輸將成為現(xiàn)實(shí)。同時(shí)，它也使得光通信系統(tǒng)中波分復(fù)用技術(shù)和密集波分復(fù)用技術(shù)的實(shí)現(xiàn)成為可...
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