<ul id="6ikgc"></ul>

當(dāng)前位置：主頁 > 產(chǎn)品展示 > 實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品 > 膜厚測量儀

Product catalog

實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品

查看全部

薄層方塊電阻測量儀-非接觸式
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀可以非接觸式實(shí)時測量，對導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。可用于方塊電阻，方阻測量，四探針測試，四探針方阻測量。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
查看詳情
非接觸式金屬膜厚測量儀
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實(shí)時測量，對導(dǎo)電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
查看詳情
MProbe系列膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級分辨率，非接觸式無損快速測量。廣泛應(yīng)用在各種生產(chǎn)或研究中，比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

型號：MProbe系列廠商性質(zhì)：代理商
查看詳情

共 3 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉(zhuǎn)到第頁

日韩美女一区二区三区免费视频|久久午夜鲁丝片午夜精品小说|漂亮人妻被强中文字幕久久婷|男女视频一区二区三区在线观看