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Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)

簡要描述:Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實驗的檢測設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-09-30
  • 訪  問  量:201
詳細(xì)介紹
品牌昊量光電供貨周期現(xiàn)貨
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)


隨著Mini-LED晶圓臺測試系統(tǒng)和Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)(簡稱M-LED)尺?的?幅縮?,光通量的下降,檢測難度在不斷上升,檢測數(shù)量也在?幅增加,對其綜合光電性能的檢測也提出了更多更新的要求。為此,Aunion Tech推出了全新開發(fā)的?主品牌晶圓級I-V-L-S綜合光電性能測試臺系統(tǒng)。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點(diǎn)亮測試;可以?持正裝或倒裝M-LED的測試;不僅能對單 顆M-LED進(jìn)?I-V-L(電流-電壓-亮度)曲線的測試,還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息;不僅能觀察單顆LED?身的亮度、?度分布,還能實現(xiàn)對陣列M-LED的亮度、?度、波?均勻性分布進(jìn)?測量和分析。 Micro-LED 晶圓臺測試系統(tǒng)實現(xiàn)了對M-LED的綜合光電性能測試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實驗的檢測設(shè)備。


M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測試臺

• 顯微成像+探針點(diǎn)亮模塊:蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品

• 超?量程的綜合光電性能測試

 - I-V-L-S測試集成電流、電壓、亮度、?度、主波?、光譜等多種信息

 - 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程,完整測試M-LED的特性

 - ?持100pA到1A的超?量程測試

• 精密運(yùn)?控制臺

• 隔振光學(xué)平臺


Micro-LED晶圓臺測試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格:


關(guān)于昊量光電:

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務(wù)。

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