陰極發(fā)射體

簡要描述：陰極發(fā)射體專為高亮度、長壽命或堅固的可靠性而設(shè)計，用于Kimball Physics電子槍以及我們客戶的高性能儀器和工具。陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也有定制設(shè)計，應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、X射線生成、自由電子激光器、電子加速器等。

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更新時間：2024-02-20
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陰極發(fā)射體

Kimball Physics設(shè)計和制造各種高性能電子發(fā)射器，以滿足客戶的各種需求。

這些發(fā)射器專為高亮度、長壽命或堅固的可靠性而設(shè)計，用于Kimball Physics

電子槍以及我們客戶的高性能儀器和工具。陰極/發(fā)射器既有標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，也有

定制設(shè)計，應(yīng)用包括電子顯微鏡、光刻、X射線生成、自由電子激光器、

電子加速器等。

陰極發(fā)射體基座類型：

● 六硼化鑭（LaB6）高亮度單晶 ● 帶有Kovar或鉬引腳的高公差陶瓷

LaB6高亮度單晶——標(biāo)準(zhǔn)和保護(hù)環(huán) ● 標(biāo)準(zhǔn)陶瓷AEI底座

LaB6用于電子顯微鏡-適用于大多數(shù)系統(tǒng) ● Compact Kimball Physics CB-104基座

● 圓盤陰極 ● 各種顯微鏡底座

鉭（Ta）標(biāo)準(zhǔn)耐火圓盤 ● 陰極也可以安裝在客戶提供的底座上

用于低溫操作的氧化鋇（BaO）涂層圓盤

釔（Y2O3）涂層銥盤，可承受較差的真空度

陰極發(fā)射體選型參考表

*electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI,

Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI

* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20

Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.

** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6

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關(guān)于昊量光電：

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。

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