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超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,低損傷)

簡(jiǎn)要描述:MA™是一種超高速且一體化的可定制高光譜顯微鏡平臺(tái),具有高空間分辨率和光譜分辨率。*集成的系統(tǒng)可快速映射VIS-NIR-SWIR光譜范圍內(nèi)的漫反射,透射率,光致發(fā)光,電致發(fā)光和熒光?;诟咄咳殖上駷V波器,IMA™比基于掃描類型光譜儀的高光譜系統(tǒng)更快,更高效。超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,低損傷)

  • 產(chǎn)品型號(hào):
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  • 更新時(shí)間:2021-06-02
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超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,低損傷)

技術(shù)服務(wù)人員:李工(William)

IMA™是一種超高速且一體化的可定制高光譜顯微鏡平臺(tái),具有高空間分辨率和光譜分辨率。*集成的系統(tǒng)可快速映射VIS-NIR-SWIR光譜范圍內(nèi)的漫反射,透射率,光致發(fā)光,電致發(fā)光和熒光?;诟咄咳殖上駷V波器,IMA™比基于掃描類型光譜儀的高光譜系統(tǒng)更快,更高效。

IMA™可實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的材料分析,如太陽能電池和鈣鈦礦的表征,成分,應(yīng)力,材料缺陷等的映射,光譜信息的監(jiān)測(cè),單個(gè)發(fā)射器強(qiáng)度的變化,波長(zhǎng)漂移或光譜帶寬變化。

 

 Photon Etc.的IMA™可在400至1700 nm范圍內(nèi)成像,帶寬為3 nm,能夠測(cè)量光電特性,如電壓開路和外量子效率,并可對(duì)材料中的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的檢測(cè)和表征,這非常適于半導(dǎo)體器件(GaAs,SiC,CdTe,CIS,CIGS等)的質(zhì)量控制。

 

超高速熒光成像系統(tǒng)(面掃描,低損傷)IMA™覆蓋的光譜范圍非常適用于在第二個(gè)生物窗口中激發(fā)的熒光的空間和光譜識(shí)別和測(cè)量。通過可能集成暗視野照明模塊,它成為檢測(cè)嵌入在細(xì)胞中的納米材料的成分和位置或活體,體外和未染色生物樣品的復(fù)雜分析的特殊工具;有機(jī)和無機(jī)物質(zhì)的特性。例如,單壁納米管(SWNT)發(fā)射帶窄(~20nm),每個(gè)帶對(duì)應(yīng)于*的物種(手性)。使用IMA™,可以在表面或活細(xì)胞中以單一SWNT空間分辨率分離這些物種。生物學(xué)家會(huì)喜歡使用它做無損分析,因?yàn)槠漭^弱的組織吸收,更高的穿透深度和有限的自發(fā)熒光等特性。

應(yīng)用案例:

1、      多路復(fù)用-碳納米管的空間位置和光譜的識(shí)別

在玻璃表面上SCD懸浮HiPco碳納米管的偽彩熒光成像。每一種顏色(17種)對(duì)應(yīng)一個(gè)光譜,如下圖所示:

 

 

2、      不均勻性和缺陷成像-鈣鈦礦器件的Absolute luminescence成像

頂部圖像表示使用C60作為ETL的鈣鈦礦電池的源自EL的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)分裂的Absolute 成像。下圖是電流轉(zhuǎn)換效率的fT的成像。

3、降解和樣品形成-鈣鈦礦晶體的光致發(fā)光成像

黑白圖:770nm波長(zhǎng)激發(fā)的PL成像

彩色圖:PL中心波長(zhǎng)的偽彩圖。

底部圖:從高光譜數(shù)據(jù)中提取的兩個(gè)PL光譜-見圖片中相應(yīng)位置

4、細(xì)胞標(biāo)記-金納米粒子暗場(chǎng)成像

A)用金納米顆粒(60nm大?。?biāo)記的人乳腺癌細(xì)胞的暗視野圖像,

B)在550nm處的單色圖像。 在PCA后標(biāo)記為綠色的GNP

C)乳腺細(xì)胞的放大

D)在不同區(qū)域GNPs的光譜,在550nm處的峰確認(rèn)為單個(gè)60nmNPs的峰,沒有強(qiáng)的紅移峰證明沒有聚合的NPs,高光譜相機(jī)沒有在細(xì)胞之間的區(qū)域中檢測(cè)到任何GNPs。

產(chǎn)品特點(diǎn)

l   快速全視野成像

l   高空間分辨率和光譜分辨率

l   可定制

l   無損分析

l   光譜分為可從400-1700nm

 

主要應(yīng)用

l  進(jìn)行復(fù)雜的材料分析,如太陽能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制(例如:鈣鈦礦,GaAs,SiC,CIS,CIGS等)。

l  研究復(fù)雜環(huán)境中的IR標(biāo)記,包括活細(xì)胞和組織。 例如,在第二生物窗口中發(fā)射的IR熒光團(tuán)的光譜異質(zhì)性。

l  檢索暗場(chǎng)圖像并獲得透明和未染色樣品(如聚合物,晶體或活細(xì)胞)的對(duì)比度。

主要參數(shù):

AL RANGE

VIS - SWIR Model
  400 - 1620 nm

VIS
  400-1000 nm

SWIR
  900-1620 nm

SPECTRAL RESOLUTION

< 2.5 nm

< 4 nm

CAMERA

CCD, EMCCD, sCMOS

ZephIR 1.7

EXCITATION WAVELENGTHS
  (up to 3 lasers)

405, 447, 532, 561, 660, 730, 785 or 808 nm

MICROSCOPE

Upright or Inverted; Scientific Grade

SPATIAL RESOLUTION

Sub-micron
  (limited by the microscope objective N.A.)

MAXIMUM SAMPLE SIZE

10 cm x 10 cm

X, Y TRAVEL RANGE

76 mm x 52 mm

Z-STAGE RESOLUTION

100 nm

ILLUMINATION
  Illumination option

Diascopic, Episcopic, LED, HG,
  Epifluorescence module, Darkfield module

WAVELENGTH ABSOLUTE ACCURACY

0.25 nm

VIDEO MODE

Megapixel camera for sample visualization

DATA PROCESSING

Spatial filtering, statistical tools, spectrum extraction, data   normalization, spectral calibration, overlay, central position map, etc.

HYPERSPECTRAL DATA FORMAT

HDF5, FITS

SINGLE IMAGE DATA FORMAT

HDF5, CSV, JPG, PNG, TIFF

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